Nový unikátní přístroj od příštího semestru bude sloužit studentům nejen studijních programů Nanotechnologií a výrazným způsobem tak přispěje ke zkvalitnění výuky. Elektronový mikroskop je asi nejvšestrannější přístroj pro pohled do mikrosvěta. Umožňuje zjistit, jak jsou ve zkoumaném materiálu rozloženy struktury či jaké má chemické a jiné vlastnosti. Nový mikroskop Centra nanotechnologií VŠB-TUO je unikátní také v tom, že spojuje transmisní a skenovací režim pozorování do jednoho přístroje. Další předností je spojení transmisního a skenovacího mikroskopu s mikroskopem atomárních sil (AFM), což výrazně rozšiřuje možnosti studia materiálů.
Mikroskop umožňuje zobrazení preparátů při vysokých zvětšeních i rozlišeních pomocí detektorů elektronů. Ty fungují tak, že primární elektronový svazek dopadá na povrch preparátu a v závislosti na jeho materiálu a parametrech elektronového svazku dochází k různým interakcím primárních elektronů s elektrony v atomech vzorku. Při těchto interakcích vznikají další typy signálů, které pak vědci používají pro zobrazování. „V našem případě se pro zobrazování používají hlavně sekundární a zpětně odražené elektrony detekované speciálními detektory,“ říká Ing. Gabriela Kratošová, Ph.D., z Centra nanotechnologií. Další typ signálu, který poskytuje reálný obraz nanočástic, vzniká v transmisním režimu. Mikroskop pracuje s velmi dobrým rozlišením. „Rozlišovací schopnost je v podstatě schopnost rozlišit dva body jako samostatné a vidět je stále ostře,“ dodává doktorka Kratošová. Pro lepší představu poslouží čárový kód, kde se jednotlivé čáry postupně ztenčují.
„Před samotným nákupem bylo nezbytné najít vhodné prostory, které by vyhovovaly potřebám mikroskopu z hlediska vibrací a elektromagnetického pole“, dodává řešitelka projektu prof. Ing Jana Seidlerová, CSc. a pokračuje: „Vhodná místnost byla nalezena na Fakultě stavební. Ráda bych proto poděkovala vedení Stavební fakulty i katedry stavebních hmot a diagnostiky staveb za vstřícnost a pomoc. Poděkování také patří všem, kteří během stavebních úprav, které si umístění mikroskopu vyžádalo, jakýmkoliv způsobem přispěli k úspěšnému ukončení instalace.“